簡要描述:QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 電橋電容比Cx/Cs(當(dāng)額定比率為1:1時)為0到1.111110,步級0.000001,倍率(K)變化范圍為1000、500、200、100、50、20、10、5、2、1共十檔,電容的測量范圍取決于標(biāo)準(zhǔn)電容器Cs的大小電容值,即Cx=Cs·K·(Cx/Cs)電容比率值的測量準(zhǔn)確度:電容比率讀數(shù)第一只盤為滿度時
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高精密高壓電容電橋QS30Ⅰ型簡介
1.QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 簡介
QS30Ⅰ型高壓電橋為實驗室用高精密高壓電橋,可與各類高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器配合組成高壓電容電橋,適宜于在高電壓下測量電力電纜、高壓套管、電力電容器、互感器等高壓電力設(shè)備的電容量及損耗角正切值tgδ,以及各種固體或液體絕緣材料的介電常數(shù)(ε)及損失角正切值,也可測量高壓變壓器或電壓互感器的比差和角差。電橋可外接電流互感器以擴(kuò)大量程,測量大電容時本電橋為四端測量具有引線補(bǔ)償裝置,消除接線電阻引起的附加誤差。本電橋還可測量電抗器的電感量及Q值。QS30Ⅰ-3型量程擴(kuò)展器(供選購)能使主橋體的電容比從1000:1擴(kuò)大到106:1,當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)電容為1000pF時,儀器大可測得1000uF。儀器內(nèi)部的計算機(jī)能自動對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,直接在面板上顯示電容值及介損值tgδ和測試電壓及流經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)電容的電流(Is),并可通過打印機(jī)將測試結(jié)果打印出來.
2. QS30介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 主要技術(shù)指標(biāo)
為±0.00005
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